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日本KETT LZ-200J两用膜厚计

日本KETT LZ-200J两用膜厚计采用电磁和涡流两种测量模式,精度达2%,测量1500μm内的磁性金属底材涂层或800μm内的非磁性金属上涂层。

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产品详情

日本KETT LZ-200J两用膜厚计采用电磁和涡流两种测量模式,精度达2%,测量1500μm内的磁性金属底材涂层或800μm内的非磁性金属上涂层。


日本KETT LZ-200J两用膜厚计产品简介:

LZ-200J采用电磁和涡流两种测量模式,可无损检测磁性金属上非磁性覆层厚度及非磁性金属上绝缘层厚度,内置打印机、有统计储存、连接电脑等功能,对微小厚度的涂镀层测量有较高的准确度。本产品广泛用于汽车制造、船舶制造、金属加工等各领域行业。

日本KETT LZ-200J两用膜厚计1.png



日本KETT LZ-200J两用膜厚计技术参数:

测定方法:电磁诱导式+涡电流式

测定对象:磁性金属上的非磁性薄膜及非磁性金属上的绝缘膜

测量范围:

电磁式:0~1500μm或60.00 mils

涡流式:0~800μm或32.00 mils

测量精度:

电磁式:<15μm±0.3μm ≥15μm±2%

涡流式:<50μm±1μm ≥50μm±2%

测试面积: 3*3mm

测试单位:公/英制

分辨率: ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm

统计功能: 测试次数、较大/较小值、平均值、标准偏差

显示方式:LED数显

探针:一点接触恒压式(LEP - J,LHP - J)

外部输出: RS-232C接口(传送速度2400 bps)

尺寸、质量: 120(W)×250(D)×55(H)毫米,1000g

附件: 探头/基体/校正标准片/电池/V型块/变压器/皮套/合格证/说明书

附加功能:内置打印功能、储存统计功能、连接电脑功能(RS232标准接口)

界限设定:可设定上/下限

电源:电源AC 100V(50 / 60Hz)或电池1.5 V(单3碱)